Ｘ線自由電子レーザーによる単粒子構造解析の試料調製法の最適化

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タイトル別名

Optimization of Sample Preparation Method for Single Particle Imaging by X-ray Free Electron Laser

抄録

Ｘ線自由電子レーザーを用いた単粒子構造解析の手法開発を目指した研究に取り組んだ。直径約 160~200 nm のウイルスを用い、単粒子構造解析のための試料調製法の最適化を実施した。試料調製法の評価のために SACLA BL3A において、XFEL 回折実験を実施した。

収録刊行物

SPring-8/SACLA利用研究成果集 8 (2), 457-460, 2020-08-21

公益財団法人高輝度光科学研究センター

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