書誌事項
- タイトル別名
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- シリコン タジュウ ドット コウゾウ ニ オケル タンデンシ デンドウ ノ シミュレーション カイセキ ト ヒカリ ショウシャ コウカ エ ノ テキヨウ
- Circuit Modeling of Photoinduced Effects on Single-Charge Tunneling in a Silicon Multidot Structure
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説明
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収録刊行物
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- 静岡大学電子工学研究所研究報告
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静岡大学電子工学研究所研究報告 38 21-25, 2004-03-24
静岡大学電子工学研究所
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キーワード
詳細情報 詳細情報について
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- CRID
- 1390572174756218368
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- NII論文ID
- http://ci.nii.ac.jp/naid/110000458670
- 110000458670
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- NII書誌ID
- AN00103204
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- HANDLE
- 10297/841
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- NDL書誌ID
- 6967211
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- ISSN
- 02863383
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- 本文言語コード
- ja
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- データソース種別
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- JaLC
- IRDB
- NDL
- CiNii Articles
- KAKEN