Si 基板上エピタキシャル(K, Na)NbO<sub>3</sub>薄膜の結晶構造および圧電特性の組成依存性
書誌事項
- タイトル別名
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- Composition dependence of crystal structure and piezoelectric properties of epitaxial (K, Na)NbO<sub>3</sub> thin films grown on Si substrates
収録刊行物
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- 応用物理学会学術講演会講演予稿集
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応用物理学会学術講演会講演予稿集 2020.1 (0), 1250-1250, 2020-02-28
公益社団法人 応用物理学会
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キーワード
詳細情報 詳細情報について
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- CRID
- 1390573715151796096
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- ISSN
- 24367613
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- 本文言語コード
- ja
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- データソース種別
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- JaLC