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4端子TiO<sub>2</sub>単結晶構造メモリスタの抵抗変化特性
DOI
清水 拓磨
阪大院基礎工
竹内 正太郎
阪大院基礎工
藤平 哲也
阪大院基礎工
酒井 朗
阪大院基礎工
書誌事項
タイトル別名
Resistive switching characteristics of four terminal TiO<sub>2</sub> single crystal memristive devices
収録刊行物
応用物理学会学術講演会講演予稿集
応用物理学会学術講演会講演予稿集 2017.2 (0), 1359-1359, 2017-08-25
公益社団法人 応用物理学会
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キーワード
5p-A202-11
薄膜・表面
酸化物エレクトロニクス
抵抗変化メモリ
メモリスタ
二酸化チタン
抵抗変化特性
詳細情報
詳細情報について
CRID
1390575418085525632
DOI
10.11470/jsapmeeting.2017.2.0_1359
ISSN
24367613
本文言語コード
ja
データソース種別
JaLC
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