医薬品不純物元素分析への理論散乱X線を用いたFP法の適用検討

DOI

書誌事項

タイトル別名
  • Application of FP Method using Theoretical Calculation of Scattered X-Rays for Pharmaceuticals Impurities Elemental Analysis

抄録

<p>米国薬局方（USP）に一般分析手法として蛍光X線分析法が収載されたことを受けて，医薬品中の元素不純物のスクリーニング用途としての管理分析への有用性が高まっている．ファンダメンタルパラメータ（FP）法による定量分析では用いる標準試料の数を減らせる利点がある．本研究では理論散乱X線を用いたFP法（バックグラウンドFP法）の有用性を確認するために，様々な材質（セルロース，タルク，混合物（セルロース＋タルク＋TiO2），トシル酸）中の不純物リスクアセスメント元素として重要なCd，Pb，As，Hg，V，Co，Ni，Ir，Pt，Ru，Rh，Pdの12元素を対象に，USP 735章に記載されているいくつかの重要な検証内容の評価を行い検量線法と比較した．</p>

収録刊行物

  • Ｘ線分析の進歩

    Ｘ線分析の進歩 48 (0), 249-265, 2017-03-31

    公益社団法人 日本分析化学会　X線分析研究懇談会

キーワード

詳細情報 詳細情報について

  • CRID
    1390578625301475584
  • DOI
    10.57415/xshinpo.48.0_249
  • ISSN
    27583651
    09117806
  • 本文言語コード
    ja
  • データソース種別
    • JaLC
  • 抄録ライセンスフラグ
    使用可

問題の指摘

ページトップへ