非酸化物試料のガラスビード法による蛍光X線分析
書誌事項
- タイトル別名
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- X-Ray Fluorescence Analysis of Non-oxide Samples by Fusion Method
- —Quantitative Analysis of Silicon Carbide with Fundamental Parameter Method—
- ―ファンダメンタル・パラメータ法による炭化ケイ素の定量分析―
抄録
<p>ガラスビード法は粉末試料における粒度効果や鉱物効果等による不均質効果の影響を除去することができ,均質な試料が得られるため,蛍光X線分析においてFP(ファンダメンタル・パラメータ)法を用いた分析に適している.</p><p>ガラスビード作成の溶融過程で,試料中の全ての非酸化物元素は酸化し,強熱増量(GOI)が起こる.また炭素のような揮散元素は溶融の結果,ガラスビード中には存在しない.この質量変化は強熱減量(LOI)である.非酸化物試料では強熱増量が強熱減量を上回り,酸化物換算した試料の合計含有率が100 mass%を超えることが多い.新しく開発したFP法は,これらの質量変化を考慮した定量演算を行っている.</p><p>非酸化物試料である炭化ケイ素の分析においては,検量線作成に必要で充分な数の炭化ケイ素認証標準試料の入手が困難であることから,標準試料に酸化物認証標準試料を用いてFP法で定量分析を行い,正確な分析結果を得ることができた.</p>
収録刊行物
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- X線分析の進歩
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X線分析の進歩 44 (0), 253-259, 2013-03-31
公益社団法人 日本分析化学会 X線分析研究懇談会
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詳細情報 詳細情報について
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- CRID
- 1390579366895339904
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- ISSN
- 27583651
- 09117806
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- 本文言語コード
- ja
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- データソース種別
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- JaLC
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- 抄録ライセンスフラグ
- 使用可