絶縁物試料の転換電子収量XAFS測定における電位勾配の影響

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タイトル別名
  • Effects of Electric Field for Conversion Electron Yield XAFS Measurements of Insulator Samples

抄録

<p>広島大放射光センターでの軟X線XAFS測定において，ヘリウム雰囲気下での転換電子収量と蛍光X線収量の同時測定が可能な装置を開発した．転換電子収量法は雰囲気ガスによるチャージアップの防止効果があるため絶縁物試料に対しても適用可能であるが，発生した電子―イオン対の再結合を防ぐために電圧を印加した適切な電極を設置する．絶縁物を測定する際には有効な電位勾配が低下すると考えられるため，本研究ではポリ塩化ビニル薄膜を試料としてその保持基板および試料サイズの影響を検討し，実際的な測定条件を明らかにした．</p>

収録刊行物

  • Ｘ線分析の進歩

    Ｘ線分析の進歩 44 (0), 293-299, 2013-03-31

    公益社団法人 日本分析化学会　X線分析研究懇談会

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詳細情報 詳細情報について

  • CRID
    1390579366895341568
  • DOI
    10.57415/xshinpo.44.0_293
  • ISSN
    27583651
    09117806
  • 本文言語コード
    ja
  • データソース種別
    • JaLC
  • 抄録ライセンスフラグ
    使用可

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