ブランド品財布と偽造品のSEM-EDXを用いた像観察および組成分析

DOI
  • 澤 龍
    京都大学大学院工学研究科材料工学専攻
  • 河合 潤
    京都大学大学院工学研究科材料工学専攻

書誌事項

タイトル別名
  • SEM-EDX Authenticity of Leather Wallet

抄録

<p>ブランド革財布の偽造品は市場で時折販売されているが，我々は走査型電子顕微鏡エネルギー分散型X線分析法（SEM-EDX）によって真偽を見分ける方法を提案する．SEM-EDX分析の結果，偽物の財布からは強い塩素ピークが観測された．</p>

収録刊行物

  • Ｘ線分析の進歩

    Ｘ線分析の進歩 43 (0), 471-473, 2012-03-31

    公益社団法人 日本分析化学会　X線分析研究懇談会

キーワード

詳細情報 詳細情報について

  • CRID
    1390579532134981504
  • DOI
    10.57415/xshinpo.43.0_471
  • ISSN
    27583651
    09117806
  • 本文言語コード
    ja
  • データソース種別
    • JaLC
  • 抄録ライセンスフラグ
    使用可

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