Te化法によるGeSbTe膜の高アスペクト比ホール内組成制御
Journal
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- JSAP Annual Meetings Extended Abstracts
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JSAP Annual Meetings Extended Abstracts 2012.1 (0), 2987-2987, 2012-02-29
The Japan Society of Applied Physics
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Details 詳細情報について
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- CRID
- 1390579599233128320
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- ISSN
- 24367613
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- Text Lang
- ja
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- Data Source
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- JaLC
