The reconstruction process for blind structured illumination microscopy with deep learning

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  • ディープラーニングによるBlind-SIM再構成処理

Abstract

<p>構造化照明顕微鏡は従来の光学顕微鏡の約２倍の解像度を持ち、主に生体イメージングに使用されている。近年になって開発されたBlind-SIMは事前の照明に関する知識を必要とせず観察系の回折に起因する歪みに対して高いロバスト性を誇るが、その再構成アルゴリズムは膨大な計算量コストや解の不定性などの欠点から実用への適用は困難であった。本報ではディープラーニングを用いたblind-SIM再構成処理手法を提案する。</p>

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Details 詳細情報について

  • CRID
    1390845702276573056
  • NII Article ID
    130007702843
  • DOI
    10.11522/pscjspe.2019s.0_908
  • Text Lang
    ja
  • Data Source
    • JaLC
    • CiNii Articles
  • Abstract License Flag
    Disallowed

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