書誌事項
- タイトル別名
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- Electron Interference Experiment with Asymmetric Double Slit
- ヒタイショウ ナ ニジュウ スリット オ モチイタ デンシハ カンショウ ジッケン
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抄録
<p>最先端の電子波干渉技術を用いて新しい二重スリットの実験を実施した.個々の電子を逐次記録しながら,どちらのスリットを通過したかの情報が得られないか実験を行った.具体的には,左右非対称な二重スリットを小さな伝播距離(プレ・フラウンホーファー条件)の条件下で観察し,左右の単スリットと二重スリットの3通りの干渉像から,個々の電子が通過したスリットを可能な範囲で分類を行い,画像として再合成を行った.</p>
収録刊行物
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- 顕微鏡
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顕微鏡 54 (2), 98-103, 2019-08-30
公益社団法人 日本顕微鏡学会
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詳細情報 詳細情報について
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- CRID
- 1390845702277552640
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- NII論文ID
- 130007704145
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- NII書誌ID
- AA11917781
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- ISSN
- 24342386
- 13490958
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- NDL書誌ID
- 030011206
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- 本文言語コード
- ja
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- データソース種別
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- JaLC
- NDL
- CiNii Articles
- KAKEN
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- 抄録ライセンスフラグ
- 使用不可