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- 佐藤 博之
- 株式会社アドバンテスト
書誌事項
- タイトル別名
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- Non-Reproduction Failure Phenomenon and Failure Mechanism in Electronic Component
- デンシ ブヒン ノ フサイゲン ゲンショウ ト コショウ メカニズム
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説明
日本信頼性学会・故障物性研究会では,不再現現象分科会を立上げ,電子機器や電子部品で発生する 不再現現象の事例を共有し,故障メカニズムや環境要因などとの関連性を調査・研究してきた.ここで は,不再現現象に結びつきやすい電子部品の故障メカニズムやその対策案について解説する.
収録刊行物
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- 日本信頼性学会誌 信頼性
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日本信頼性学会誌 信頼性 40 (3), 141-147, 2018
日本信頼性学会
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詳細情報 詳細情報について
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- CRID
- 1390845702330115200
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- NII論文ID
- 130007756100
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- NII書誌ID
- AN10540883
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- ISSN
- 24242543
- 09192697
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- NDL書誌ID
- 029096295
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- 本文言語コード
- ja
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- データソース種別
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- JaLC
- NDLサーチ
- CiNii Articles
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- 抄録ライセンスフラグ
- 使用不可