Structural Analysis of Slight Cation Displacements Using Scanning Transmission Electron Microscopy

DOI Web Site
  • Kobayashi Shunsuke
    一般財団法人ファインセラミックスセンターナノ構造研究所
  • Yamamoto Takahisa
    一般財団法人ファインセラミックスセンターナノ構造研究所 名古屋大学工学部マテリアル工学科
  • Ikuhara Yuichi
    一般財団法人ファインセラミックスセンターナノ構造研究所 東京大学大学院工学系研究科総合研究機構

Bibliographic Information

Other Title
  • 走査型透過電子顕微鏡法による陽イオン微小変位計測を用いた構造解析
  • ソウサガタ トウカ デンシ ケンビキョウホウ ニ ヨル ヨウイオン ビショウ ヘンイ ケイソク オ モチイタ コウゾウ カイセキ

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Abstract

<p>Scanning transmission electron microscopy is a powerful technique for analyzing materials at the atomic level. High-tech materials require design at the nanoscale level to optimize their properties. Analyzing changes in atomic positions near surface, heterointerfaces, and other crystalline defects with picometer-level precision are crucial to understand the relationships between structures and properties to be probed in unprecedented detail. In this study, we measured cation displacements at the (010) surface of Li-ion battery cathode material LiFePO4 and within multiphase nanodomains of a strained BaTiO3 film.</p>

Journal

  • KENBIKYO

    KENBIKYO 54 (1), 19-23, 2019

    The Japanese Society of Microscopy

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