書誌事項
- タイトル別名
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- High-Resolution Element Specific Analysis with Scanning Tunneling Microscope Assisted by Synchrotron Radiation Light
- ホウシャコウレイキソウサ トンネル ケンビキョウ ニ ヨル コウブンカイノウ ゲンソ ブンセキ
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抄録
<p>原子分解能を持ち,しかも化学組成を分析できる顕微鏡は究極の顕微鏡の一つといえる.エネルギー可変のシンクロトロン放射光(SR)による内殻励起を利用した走査トンネル顕微鏡(STM)は,そのような究極の顕微鏡の有力な候補となる可能性を秘めている.我々は,放射光により励起された内殻正孔が電子正孔対消滅を起こす際に生成される二次電子をSTM探針により検出し,その二次元分布を画像化することで,20 nm以下の高分解能で表面の化学組成分析に成功している.現在,信号検出感度を向上させつつ,最先端の光源に対応すべくシステムの改良を進めている.本稿ではこれら改良点を紹介すると共に,今後の展望についても述べる.</p>
収録刊行物
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- 顕微鏡
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顕微鏡 47 (1), 14-17, 2012-03-30
公益社団法人 日本顕微鏡学会
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キーワード
詳細情報 詳細情報について
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- CRID
- 1390846609783223168
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- NII論文ID
- 10030552165
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- NII書誌ID
- AA11917781
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- ISSN
- 24342386
- 13490958
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- NDL書誌ID
- 023682555
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- 本文言語コード
- ja
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- データソース種別
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- JaLC
- NDL
- CiNii Articles
- KAKEN
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- 抄録ライセンスフラグ
- 使用不可