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- 首藤 健一
- 横浜国立大学理工学部
書誌事項
- タイトル別名
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- Electron Beams Applied to Material Science
- ザイリョウ カガク ニ オケル デンシセン ノ オウヨウ
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抄録
<p>Generation and analysis of electron beams are of great use still today to elucidate electronic and microscopic features of solid materials. Some interesting methods, in terms of visualization of physical property at the sub-micrometer-scale structures, are addressed from researchers’ view point in the fields of material science and technology. Readers will conceive something new in the introduced articles that appear in this special issue of the journal.</p>
収録刊行物
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- 表面と真空
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表面と真空 63 (1), 3-6, 2020-01-10
公益社団法人 日本表面真空学会
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詳細情報 詳細情報について
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- CRID
- 1390846609792223744
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- NII論文ID
- 130007784328
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- NII書誌ID
- AA12808657
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- DOI
- 10.1380/vss.63.3
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- ISSN
- 24335843
- 24335835
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- NDL書誌ID
- 030212535
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- 本文言語コード
- ja
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- データソース種別
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- JaLC
- NDL
- Crossref
- CiNii Articles
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- 抄録ライセンスフラグ
- 使用不可