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- 中村 美樹
- 日本エフイーアイ株式会社
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- Toth Milos
- FEI Company
書誌事項
- タイトル別名
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- Signal Detection in Low Vacuum Scanning Electron Microscopy
- テイシンクウ SEM デノ シンゴウ ケンシュツ
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説明
<p>近年における低真空走査型電子顕微鏡(低真空SEM)観察の進歩により,絶縁試料の高分解能二次電子(SE)像の観察,1000 Paより高いガス圧下でのSE像の観察,および含水物質や液体物質のSE像や走査透過電子顕微鏡(STEM)像の観察が可能になった.本稿では,従来の低真空SEMのアプリケーションの幅を広げる新しい検出手法の発展について,フォトリソグラフィックマスク,ナノワイヤ,エアロゲル,人工雪,およびインフルエンザウイルスなどといった物質系の最先端画像を用いて議論し,説明する.</p>
収録刊行物
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- 顕微鏡
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顕微鏡 43 (3), 177-180, 2008-09-30
公益社団法人 日本顕微鏡学会
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詳細情報 詳細情報について
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- CRID
- 1390846609800031872
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- NII論文ID
- 130007791636
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- NII書誌ID
- AA11917781
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- ISSN
- 24342386
- 13490958
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- NDL書誌ID
- 9677949
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- 本文言語コード
- ja
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- データソース種別
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- JaLC
- NDLサーチ
- CiNii Articles
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- 抄録ライセンスフラグ
- 使用不可