High-quality edge enhancement of X-ray CT images by analytical differentiation of X-ray CT values
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- Ota Tomoya
- Tokyo Metropolitan University
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- Nagai Yukie
- Tokyo Metropolitan University
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- Ohtake Yutaka
- The University of Tokyo
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- Monkawa Ryo
- Tokyo Metropolitan Industrial Technology Research Institute
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- Miura Yuka
- Tokyo Metropolitan Industrial Technology Research Institute
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- Gessei Tomoko
- Tokyo Metropolitan Industrial Technology Research Institute
Bibliographic Information
- Other Title
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- X線CT値の解析的微分によるX線CT画像の高画質エッジ強調
Description
<p>X線CTスキャンで得られたCT画像は、輝度値が連続的に変化し、物体と背景の境界点を一意に決定することが難しい。また、低画質の原因となるノイズなどが存在する。そのため、物体のエッジを高画質で強調する方法が求められる。そこで、X線の投影値の解析的微分値を用いて、エッジ強調することを提案する。得られたエッジ強調画像を画質評価した結果、従来のエッジ強調フィルタよりも高画質なCT画像が得られたことを示す。</p>
Journal
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- Proceedings of JSPE Semestrial Meeting
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Proceedings of JSPE Semestrial Meeting 2020S (0), 208-209, 2020-03-01
The Japan Society for Precision Engineering
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Details 詳細情報について
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- CRID
- 1390848647554963200
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- NII Article ID
- 130007896480
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- Text Lang
- ja
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- Data Source
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- JaLC
- CiNii Articles
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- Abstract License Flag
- Disallowed