書誌事項
- タイトル別名
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- Application for Structural Analysis of Large Sample by Using Multibeam SEM and CLEM
- マルチビーム SEM ト CLEM ニ ヨル コウハンイ シリョウ ノ コウゾウ カイセキ エ ノ オウヨウ
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抄録
<p>近年注目される電子顕微鏡用の連続切片を三次元的に解析可能なATUM-SEM法は,樹脂包埋試料のSEM観察法の中でも特に広い範囲の生体構造を高解像度観察が可能であることや,繰り返し切片の観察ができることなど優れた特徴を有する手法である.さらにこの手法で作製された連続切片の観察に,61本のビームを並行照射してイメージングするマルチビームSEMを用いることにより試料の全体像を素早くかつ高分解能で画像化することができ,ミクロレベルのオーダーからナノレベルのオーダーまでの試料の三次元的な構造解析が実施可能となる.最近ではマルチビームSEMとCLEM法を組み合わせた解析により,特定分子の局在を広範囲の切片上にて可視化することができている.本解説ではATUM-SEM法,マルチビームSEMを使った広範囲試料の解析法を概説し,さらにマルチビームSEMによる広範囲CLEM法のイメージング技術についても述べる.</p>
収録刊行物
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- 顕微鏡
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顕微鏡 56 (3), 124-130, 2021-12-30
公益社団法人 日本顕微鏡学会
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詳細情報 詳細情報について
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- CRID
- 1390853509417750272
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- NII論文ID
- 130008137903
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- NII書誌ID
- AA11917781
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- ISSN
- 24342386
- 13490958
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- NDL書誌ID
- 031942027
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- 本文言語コード
- ja
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- データソース種別
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- JaLC
- NDL
- CiNii Articles
- KAKEN
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- 抄録ライセンスフラグ
- 使用不可