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- SbSI ノ キュウシュウ タン ニ オヨボス デンカイ オヨビ オンド ノ コウカ
- Effects of Electric Field and Temperature on the Absorption Edge of SbSI
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- 静岡大学電子工学研究所研究報告
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静岡大学電子工学研究所研究報告 7 (1), 57-65, 1972-10-07
静岡大学電子工学研究所
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Keywords
Details 詳細情報について
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- CRID
- 1390853649734252672
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- NII Article ID
- http://ci.nii.ac.jp/naid/110007536137
- 110007536137
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- NII Book ID
- AN00103204
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- HANDLE
- 10297/8620
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- NDL BIB ID
- 7551340
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- ISSN
- 02863383
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- Text Lang
- ja
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- Data Source
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- JaLC
- IRDB
- NDL
- CiNii Articles