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X線トポグラフィによるダイヤモンド単結晶膜のBand-A欠陥同定
DOI
宮嶋 孝輔
関学大理工
市川 公善
物質材料研究機構
寺地 徳之
関学大理工
物質材料研究機構
鹿田 真一
関学大理工
書誌事項
タイトル別名
Identification of Band-A Defects in Single Diamond Films by X-ray Topography
収録刊行物
応用物理学会学術講演会講演予稿集
応用物理学会学術講演会講演予稿集 2021.1 (0), 1206-1206, 2021-02-26
公益社団法人 応用物理学会
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キーワード
16p-P05-6
薄膜・表面
カーボン系薄膜
ダイヤモンド薄膜
ダイヤモンド
X線トポグラフィ
詳細情報
詳細情報について
CRID
1390855422510630912
DOI
10.11470/jsapmeeting.2021.1.0_1206
ISSN
24367613
本文言語コード
ja
データソース種別
JaLC
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