自由空間法における移動反射板を用いたミリ波帯材料定数の測定法

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タイトル別名
  • A Free Space Method for Measuring Material Constants Using a Moving Reflector in Millimeter-Wave Bands

説明

自動車に搭載するミリ波レーダにおいて，レーダをカバーするレーダドームはレーダの性能に直接影響するので，その材料定数（比誘電率，誘電正接 tan δ）を測定することは重要である．本論文ではミリ波帯における材料定数を測定可能な自由空間法として，直線的に移動する反射板の反射信号から移動に伴う受信信号の位相変化及び振幅を検出することにより試料の透過係数を求め材料定数を算出する方法を提案する．本測定法はベクトルネットワークアナライザ（VNA）を使用せず，かつ測定前の校正が不要であるので，材料定数を迅速に測定することができる．76GHz帯における測定例としてアクリル基板やインジウムリン（InP）ウェハなど5種類の試料について測定した結果，VNAによるSパラメータ測定法と同等の精度で測定できることを示した．

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詳細情報 詳細情報について

  • CRID
    1390862179308798080
  • DOI
    10.14923/transcomj.2023jbp3020
  • ISSN
    18810209
  • 本文言語コード
    ja
  • データソース種別
    • JaLC
  • 抄録ライセンスフラグ
    使用不可

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