Analysis on Chemical Bondings for Functional Nanocluster Thin Films with Hard X-ray Photoelectron Spectroscopy
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- Tsunemi Eika
- Exploratory Research for Advanced Technology, Japan Science and Technology Agency Faculty of Science and Technology, Keio University
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- Tsuji Takashi
- Exploratory Research for Advanced Technology, Japan Science and Technology Agency Faculty of Science and Technology, Keio University
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- Watanabe Yoshio
- Exploratory Research for Advanced Technology, Japan Science and Technology Agency Faculty of Science and Technology, Keio University
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- Oji Hiroshi
- SPring-8/JASRI
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- Cui Yi-Tao
- SPring-8/JASRI
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- Son Jin-Young
- SPring-8/JASRI
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- Shibuta Masahiro
- Exploratory Research for Advanced Technology, Japan Science and Technology Agency Keio Institute of Pure and Applied Sciences
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- Eguchi Toyoaki
- Exploratory Research for Advanced Technology, Japan Science and Technology Agency Faculty of Science and Technology, Keio University
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- Nakajima Atsushi
- Exploratory Research for Advanced Technology, Japan Science and Technology Agency Faculty of Science and Technology, Keio University Keio Institute of Pure and Applied Sciences
Bibliographic Information
- Other Title
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- 硬X線光電子分光による機能性クラスター薄膜の化学結合状態解析
Description
光学応答や磁気特性から注目される有機金属ユウロピウム(Eu)サンドイッチクラスターに対して、銀(Ag)電極薄膜下に埋もれたクラスターの化学結合状態を観測することを目的として、8 keVの励起X線エネルギーによる硬X線光電子分光を行った。Agの内殻準位は観測されたものの、Euの内殻準位を観測できなかった。このAg膜厚(20 nm)において、Ag電極薄膜下のEuサンドイッチクラスター由来の光電子信号は得られるはずであることから、X線照射下において酸化数や配位環境の異なる中間生成物が発生してしまい十分な積算とならなかったことがEu由来の信号をバックグラウンドに埋もれさせた要因であると考えられる。
Journal
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- SPring-8/SACLA Research Report
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SPring-8/SACLA Research Report 4 (2), 154-156, 2016-07-25
Japan Synchrotron Radiation Research Institute
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Details 詳細情報について
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- CRID
- 1391131406306005504
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- NII Article ID
- 130007969344
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- ISSN
- 21876886
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- Text Lang
- ja
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- Data Source
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- JaLC
- CiNii Articles
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- Abstract License Flag
- Disallowed