Perspective of Semiconductor Technologies Contributed to the IoT Society
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- SHIOJIMA Kenji
- Graduate School of Electrical and Electronics Engineering, Faculty of Engineering, University of Fukui
Bibliographic Information
- Other Title
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- IoT社会の発展を支える半導体技術の新展開
- IoT社会の発展を支える半導体技術の新展開(3)界面顕微光応答法によるワイドバンドギャップ材料・電極界面の2次元評価
- IoT シャカイ ノ ハッテン オ ササエル ハンドウタイ ギジュツ ノ シン テンカイ(3)カイメンケンビコウ オウトウホウ ニ ヨル ワイドバンドギャップ ザイリョウ ・ デンキョク カイメン ノ 2ジゲン ヒョウカ
- III: Two-Dimensional Characterization of Wide-Bandgap Materials and Contact Interfaces by Using Scanning Internal Photoemission Microscopy
- 3.界面顕微光応答法によるワイドバンドギャップ材料・電極界面の2次元評価
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Journal
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- Journal of the Society of Materials Science, Japan
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Journal of the Society of Materials Science, Japan 69 (11), 837-842, 2020-11-15
The Society of Materials Science, Japan
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Details 詳細情報について
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- CRID
- 1391412326418416896
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- NII Article ID
- 130007941338
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- NII Book ID
- AN00096175
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- ISSN
- 18807488
- 05145163
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- NDL BIB ID
- 030777871
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- Text Lang
- ja
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- Data Source
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- JaLC
- NDL
- Crossref
- CiNii Articles
- KAKEN