In situ XAFSによる Pd/CZO<sub>2 </sub>触媒の劣化解析

東 遥介, 高橋 照央, 藤本 智成, 末広 省吾

doi:10.18957/rr.7.1.55

書誌事項

タイトル別名

Degradation Analysis of Pd/CZO<sub>2</sub> Catalyst by in situ XAFS

説明

Pd/CeZrO₂に代表される環境浄化触媒は、XAFSによる in situ 分析が近年盛んに行われており、価数や局所構造による評価事例が多数報告されている。近年当社は、ラボでガス流通・加熱試験が可能な in situ XRD を導入し、ビームタイムを待つことなく in situ 実験が提供できる環境を整備した。本課題ではSPring-8 BL08B2における in situ XAFS とラボで実施可能な in situ XRD を併用・比較して Pd/CeZrO₂の劣化解析を行うことで、触媒の挙動および in situ XRD の有用性を考察した。

収録刊行物

SPring-8/SACLA利用研究成果集

SPring-8/SACLA利用研究成果集 7 (1), 55-60, 2019-01-25

公益財団法人高輝度光科学研究センター

キーワード

詳細情報詳細情報について

CRID: 1391412881282857600

NII論文ID: 130007969575

DOI: 10.18957/rr.7.1.55

ISSN: 21876886

本文言語コード: ja

データソース種別

JaLC
CiNii Articles

抄録ライセンスフラグ: 使用不可

書き出し

問題の指摘