入門講座 やさしいトライボ表面分析(10)二次イオン質量分析法(SIMS)による表面分析
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- ニュウモン コウザ ヤサシイ トライボ ヒョウメン ブンセキ 10 2ジ イオン シツリョウ ブンセキホウ SIMS ニ ヨル ヒョウメン ブンセキ
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- トライボロジスト = Journal of Japanese Society of Tribologists / 日本トライボロジー学会 編
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トライボロジスト = Journal of Japanese Society of Tribologists / 日本トライボロジー学会 編 51 (4), 294-299, 2006
東京 : 日本トライボロジー学会 ; 1989-
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Details 詳細情報について
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- CRID
- 1520009407139226240
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- NII Article ID
- 10018136591
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- NII Book ID
- AN10056166
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- ISSN
- 09151168
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- NDL BIB ID
- 7931028
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- Text Lang
- ja
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- NDL Source Classification
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- ZN11(科学技術--機械工学・工業)
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- Data Source
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- NDL
- CiNii Articles
