トリーイング劣化機構と高分子高次構造の影響

Details 詳細情報について

• CRID

  1520009407239424256

• NII Article ID

  40005014915

• NII Book ID

  AN10441542

• ISSN

  09199195

• NDL BIB ID

  6067662

• Web Site

  http://id.ndl.go.jp/bib/6067662

  https://ndlsearch.ndl.go.jp/books/R000000004-I6067662

• Text Lang

  ja

• NDL Source Classification

  • ZN31(科学技術--電気工学・電気機械工業)

• Data Source

  • NDL
  • CiNii Articles