Impact of dot-size and dot-location variations on capacitance-voltage characteristics and flat-band voltage shift of quantum-dot non-volatile memory cells
書誌事項
- タイトル別名
-
- Impact of dot size and dot location variations on capacitance voltage characteristics and flat band voltage shift of quantum dot non volatile memory cells
この論文をさがす
収録刊行物
-
- Japanese journal of applied physics : JJAP
-
Japanese journal of applied physics : JJAP 50 (4), 2011-04
Tokyo : The Japan Society of Applied Physics
- Tweet
詳細情報 詳細情報について
-
- CRID
- 1520009407321090304
-
- NII論文ID
- 40018800885
-
- NII書誌ID
- AA12295836
-
- ISSN
- 00214922
-
- NDL書誌ID
- 11075913
-
- 本文言語コード
- en
-
- NDL 雑誌分類
-
- ZM35(科学技術--物理学)
-
- データソース種別
-
- NDL
- CiNii Articles