Feedback control system of cantilever contact conditions during conducting atomic force microscopy spectroscopy measurements
書誌事項
- タイトル別名
-
- Special issue: Scanning probe microscopy
- Special issue Scanning probe microscopy
- 公開日
- 2007-08
- DOI
-
- 10.1143/jjap.46.5598
- 公開者
- Tokyo : Published by the Japan Society of Applied Physics through the Institute of Pure and Applied Physics
この論文をさがす
説明
資料形態 : テキストデータ プレーンテキスト
コレクション : 国立国会図書館デジタルコレクション > デジタル化資料 > 雑誌
収録刊行物
-
- Japanese journal of applied physics. Part. 1, Regular papers, brief communications & review papers : JJAP
-
Japanese journal of applied physics. Part. 1, Regular papers, brief communications & review papers : JJAP 46 (8B), 5598-5601, 2007-08
Tokyo : Published by the Japan Society of Applied Physics through the Institute of Pure and Applied Physics
- Tweet
キーワード
詳細情報 詳細情報について
-
- CRID
- 1520009407329667968
-
- NII論文ID
- 40015552298
-
- NII書誌ID
- AA10457675
-
- ISSN
- 00214922
- 13474065
-
- NDL書誌ID
- 8877648
-
- 本文言語コード
- en
-
- NDL 雑誌分類
-
- ZM35(科学技術--物理学)
-
- データソース種別
-
- NDLサーチ
- Crossref
- CiNii Articles
