スキャン極性調節とピンポイントテスト変換によるテスト圧縮
Bibliographic Information
- Other Title
-
- スキャン キョクセイ チョウセツ ト ピンポイント テスト ヘンカン ニ ヨル テスト アッシュク
- デザインガイア2004--VLSI設計の新しい大地を考える研究会
- デザイン ガイア 2004 VLSI セッケイ ノ アタラシイ ダイチ オ カンガエル ケンキュウカイ
Search this article
Journal
-
- 電子情報通信学会技術研究報告 = IEICE technical report : 信学技報
-
電子情報通信学会技術研究報告 = IEICE technical report : 信学技報 104 (478), 103-108, 2004-12-02
東京 : 電子情報通信学会
- Tweet
Details 詳細情報について
-
- CRID
- 1520009407446817408
-
- NII Article ID
- 110003295353
- 110003318193
- 110003204336
-
- NII Book ID
- AA1123312X
-
- ISSN
- 09135685
-
- Text Lang
- ja
-
- NDL Source Classification
-
- ZN33(科学技術--電気工学・電気機械工業--電子工学・電気通信)
-
- Data Source
-
- NDL Search
- CiNii Articles
