LSI実装時半断線故障に対する電流テストによる検出可能性の評価
書誌事項
- タイトル別名
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- LSI ジッソウジハン ダンセン コショウ ニ タイスル デンリュウ テスト ニ ヨル ケンシュツ カノウセイ ノ ヒョウカ
- Evaluation of Detectability for Resistive Open Fault on Soldered LSI by Supply Current Test Method
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説明
コレクション : 国立国会図書館デジタルコレクション > 電子書籍・電子雑誌 > 独立行政法人
収録刊行物
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- 香川高等専門学校研究紀要 = The bulletin of Kagawa National College of Technology
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香川高等専門学校研究紀要 = The bulletin of Kagawa National College of Technology (10), 107-111, 2019-06
[高松] : 香川高等専門学校
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詳細情報 詳細情報について
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- CRID
- 1520009407681303040
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- NII論文ID
- 40021980282
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- NII書誌ID
- AA12467829
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- ISSN
- 21852391
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- NDL書誌ID
- 029911817
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- 本文言語コード
- ja
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- NDL 雑誌分類
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- ZV1(一般学術誌--一般学術誌・大学紀要)
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- データソース種別
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- NDL
- CiNii Articles
