ハードウェアの機能故障モデルの検出テストパターン生成手法とそのカバレッジ分析手法
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- ハードウェア ノ キノウ コショウ モデル ノ ケンシュツ テストパターン セイセイ シュホウ ト ソノ カバレッジ ブンセキ シュホウ
- ATPG and Coverage Analysis for Functionally Observable Fault
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- 回路とシステムワークショップ論文集 Workshop on Circuits and Systems
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回路とシステムワークショップ論文集 Workshop on Circuits and Systems 27 428-433, 2014-08
[東京] : [電子情報通信学会]
