測定時の劣化の影響を除去した高速NBTI回復特性センサーの検討
Bibliographic Information
- Other Title
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- ソクテイジ ノ レッカ ノ エイキョウ オ ジョキョ シタ コウソク NBTI カイフク トクセイ センサー ノ ケントウ
- A 65nm CMOS high-speed and high-fidelity NBTI recovery sensor
- 集積回路
- シュウセキ カイロ
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- 電子情報通信学会技術研究報告 = IEICE technical report : 信学技報
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電子情報通信学会技術研究報告 = IEICE technical report : 信学技報 110 (344), 55-58, 2010-12
東京 : 電子情報通信学会
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Details 詳細情報について
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- CRID
- 1520009408252539264
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- NII Article ID
- 110008676410
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- NII Book ID
- AA1123312X
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- ISSN
- 09135685
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- NDL BIB ID
- 10936937
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- Text Lang
- ja
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- NDL Source Classification
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- ZN33(科学技術--電気工学・電気機械工業--電子工学・電気通信)
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- Data Source
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- NDL
- CiNii Articles
