書誌事項
- タイトル別名
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- ニジュウ ゴウシ ゲート HEMT ナイ ニジゲン デンシ ガス ニ オケル プラズマ フアンテイセイ
- Plasma Instability in Two-Dimensional Electron Gas in Double-Grating-Gate HEMT
- 信頼性
- シンライセイ
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収録刊行物
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- 電子情報通信学会技術研究報告 = IEICE technical report : 信学技報
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電子情報通信学会技術研究報告 = IEICE technical report : 信学技報 112 (180), 1-4, 2012-08
東京 : 電子情報通信学会
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キーワード
詳細情報 詳細情報について
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- CRID
- 1520009408263006464
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- NII論文ID
- 110009627244
- 110009626406
- 110009627100
- 110009627205
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- NII書誌ID
- AA1123312X
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- ISSN
- 09135685
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- Web Site
- http://id.ndl.go.jp/bib/023934798
- https://ndlsearch.ndl.go.jp/books/R000000004-I023934798
- http://id.ndl.go.jp/bib/023938422
- https://ndlsearch.ndl.go.jp/books/R000000004-I023938422
- http://id.ndl.go.jp/bib/023936841
- https://ndlsearch.ndl.go.jp/books/R000000004-I023936841
- http://id.ndl.go.jp/bib/023937421
- https://ndlsearch.ndl.go.jp/books/R000000004-I023937421
- http://id.ndl.go.jp/bib/023937960
- https://ndlsearch.ndl.go.jp/books/R000000004-I023937960
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- 本文言語コード
- ja
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- NDL 雑誌分類
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- ZN33(科学技術--電気工学・電気機械工業--電子工学・電気通信)
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- データソース種別
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- NDL
- CiNii Articles
- KAKEN