ノンスキャンBISTを実現するテスト容易化設計の線形計画問題
書誌事項
- タイトル別名
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- ノン スキャン BIST オ ジツゲン スル テスト ヨウイカ セッケイ ノ センケイ ケイカク モンダイ
- Linear programming problem to design for testability of non-scan BIST
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抄録
コレクション : 国立国会図書館デジタルコレクション > 電子書籍・電子雑誌 > 独立行政法人
収録刊行物
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- 奈良工業高等専門学校研究紀要 = Research reports of Nara National College of Technology / 奈良工業高等専門学校 編
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奈良工業高等専門学校研究紀要 = Research reports of Nara National College of Technology / 奈良工業高等専門学校 編 (46), 31-34, 2010
大和郡山 : 奈良工業高等専門学校
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詳細情報 詳細情報について
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- CRID
- 1520009408339334400
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- NII論文ID
- 110008138774
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- NII書誌ID
- AN00181343
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- ISSN
- 03871150
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- NDL書誌ID
- 11040506
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- 本文言語コード
- ja
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- NDL 雑誌分類
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- ZV1(一般学術誌--一般学術誌・大学紀要)
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- データソース種別
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- NDL
- CiNii Articles