ハンマリング加振機構による電気接点の劣化現象--加振機構のモデリング(9)
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- ハンマリングカシンキコウ ニ ヨル デンキ セッテン ノ レッカ ゲンショウ カシンキコウ ノ モデリング 9
- Degradation phenomenon of electrical contacts by hammering oscillating mechanism: modeling of the oscillating mechanism (9)
- 光エレクトロニクス
- ヒカリ エレクトロニクス
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- 電子情報通信学会技術研究報告 = IEICE technical report : 信学技報
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電子情報通信学会技術研究報告 = IEICE technical report : 信学技報 110 (180), 1-6, 2010-08
東京 : 電子情報通信学会
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Details 詳細情報について
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- CRID
- 1520009408461412352
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- NII Article ID
- 110008094814
- 110008095260
- 110008095223
- 110008095144
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- NII Book ID
- AA1123312X
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- ISSN
- 09135685
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- Web Site
- http://id.ndl.go.jp/bib/10817226
- https://ndlsearch.ndl.go.jp/books/R000000004-I10817226
- http://id.ndl.go.jp/bib/10817488
- https://ndlsearch.ndl.go.jp/books/R000000004-I10817488
- http://id.ndl.go.jp/bib/10817698
- https://ndlsearch.ndl.go.jp/books/R000000004-I10817698
- http://id.ndl.go.jp/bib/10816243
- https://ndlsearch.ndl.go.jp/books/R000000004-I10816243
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- Text Lang
- ja
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- NDL Source Classification
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- ZN33(科学技術--電気工学・電気機械工業--電子工学・電気通信)
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- Data Source
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- CiNii Articles