「間いかけ」と「非難の問いかけ」の弁別に対するF0パタンの影響 : 「見ないの」の場合
書誌事項
- タイトル別名
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- 「 アイダイカケ 」 ト 「 ヒナン ノ トイカケ 」 ノ ベンベツ ニ タイスル F0 パタン ノ エイキョウ : 「 ミナイ ノ 」 ノ バアイ
- The Influence of F0 Patterns on Interrogatives and on Critical Interrogatives : the Case of the Expression "minaino"
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収録刊行物
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- 聴覚研究会資料 = Proceedings of the auditory research meeting
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聴覚研究会資料 = Proceedings of the auditory research meeting 31 (10), 661-668, 2001-12-08
東京 : 日本音響学会
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キーワード
詳細情報 詳細情報について
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- CRID
- 1520009408491002624
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- NII論文ID
- 40020275208
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- NII書誌ID
- AN00227138
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- ISSN
- 13461109
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- NDL書誌ID
- 025931927
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- 本文言語コード
- ja
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- NDL 雑誌分類
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- ZM17(科学技術--科学技術一般--力学・応用力学)
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- データソース種別
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- NDL
- CiNii Articles