書誌事項
- タイトル別名
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- スイショウ シンドウシ ・ ヒョウメン プラズモン キョウメイ フクゴウ センサ ニ ヨル デンカイシツ コウゴ キュウチャクマク ノ タイセキ ソノ バ ヒョウカ
- In-situ Evaluation of Layer-by-layer Deposited Films Using a Quartz-Crystal-Microbalance and Surface-Plasmon-Resonance Hybrid Sensor
- 機構デバイス 材料デバイスサマーミーティング
- キコウ デバイス ザイリョウ デバイスサマーミーティング
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収録刊行物
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- 電子情報通信学会技術研究報告 = IEICE technical report : 信学技報
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電子情報通信学会技術研究報告 = IEICE technical report : 信学技報 114 (94), 17-20, 2014-06-20
東京 : 電子情報通信学会
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キーワード
詳細情報 詳細情報について
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- CRID
- 1520009408542629760
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- NII論文ID
- 110009925289
- 110009925208
- 110009925230
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- NII書誌ID
- AA1123312X
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- ISSN
- 09135685
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- 本文言語コード
- ja
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- NDL 雑誌分類
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- ZN33(科学技術--電気工学・電気機械工業--電子工学・電気通信)
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- データソース種別
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- NDL
- CiNii Articles
