蛍光体への低速電子線侵入深さの測定技術
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- ケイコウタイ エ ノ テイソク デンシセン シンニュウ フカサ ノ ソクテイ ギジュツ
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- 応用物理
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応用物理 71 (5), 571-575, 2002-05
東京 : 応用物理学会
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Details 詳細情報について
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- CRID
- 1520009408569445504
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- NII Article ID
- 10008201078
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- NII Book ID
- AN00026679
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- ISSN
- 03698009
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- NDL BIB ID
- 6128029
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- Text Lang
- ja
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- NDL Source Classification
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- ZM17(科学技術--科学技術一般--力学・応用力学)
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- Data Source
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- NDL
- CiNii Articles
