Improvement of watermark detection process based on Bayesian estimation
書誌事項
- タイトル別名
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- 電子透かし検出方法のベイズ推定に基づく改良
- VLSI設計技術
- VLSI セッケイ ギジュツ
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収録刊行物
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- 電子情報通信学会技術研究報告 = IEICE technical report : 信学技報
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電子情報通信学会技術研究報告 = IEICE technical report : 信学技報 107 (102), 61-65, 2007-06-21
東京 : 電子情報通信学会
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キーワード
詳細情報 詳細情報について
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- CRID
- 1520009408608233600
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- NII論文ID
- 110006343371
- 110006343404
- 110006343535
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- NII書誌ID
- AN10013094
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- ISSN
- 09135685
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- 本文言語コード
- en
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- NDL 雑誌分類
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- ZN33(科学技術--電気工学・電気機械工業--電子工学・電気通信)
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- データソース種別
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- NDLサーチ
- CiNii Articles