Picosecond Soft-X-ray Laser Interferometer for Probing Nanometer Surface Structure

詳細情報 詳細情報について

• CRID

  1520009408887527936

• NII論文ID

  40019138080

• NII書誌ID

  AA12295836

• ISSN

  00214922

• NDL書誌ID

  023389411

• Web Site

  http://id.ndl.go.jp/bib/023389411

  https://ndlsearch.ndl.go.jp/books/R000000004-I023389411

• 本文言語コード

  en

• NDL 雑誌分類

  • ZM35(科学技術--物理学)

• データソース種別

  • NDLサーチ
  • CiNii Articles