Sパラメータ過渡応答測定を用いてトラップの非線形容量への影響を考慮したKa帯GaN大信号モデル
書誌事項
- タイトル別名
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- Sパラメータ カト オウトウ ソクテイ オ モチイテ トラップ ノ ヒセンケイ ヨウリョウ エ ノ エイキョウ オ コウリョ シタ Kaタイ GaN ダイ シンゴウ モデル
- A Ka-band GaN Large-Signal Model Considering Trap Effect on Non-linear Capacitance by Using Transient S-parameters Measurement
- エレクトロニクスシミュレーション ; 光・電波ワークショップ
- エレクトロニクスシミュレーション ; ヒカリ ・ デンパ ワークショップ
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収録刊行物
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- 電子情報通信学会技術研究報告 = IEICE technical report : 信学技報
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電子情報通信学会技術研究報告 = IEICE technical report : 信学技報 118 (144), 125-130, 2018-07
東京 : 電子情報通信学会
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詳細情報 詳細情報について
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- CRID
- 1520009408962344320
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- NII論文ID
- 40021625705
- 40021647872
- 40021625511
- 40021625333
- 40021625889
- 40021624534
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- NII書誌ID
- AA1123312X
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- ISSN
- 09135685
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- Web Site
- http://id.ndl.go.jp/bib/029143936
- https://ndlsearch.ndl.go.jp/books/R000000004-I029143936
- http://id.ndl.go.jp/bib/029143673
- https://ndlsearch.ndl.go.jp/books/R000000004-I029143673
- http://id.ndl.go.jp/bib/029144266
- https://ndlsearch.ndl.go.jp/books/R000000004-I029144266
- http://id.ndl.go.jp/bib/029142181
- https://ndlsearch.ndl.go.jp/books/R000000004-I029142181
- http://id.ndl.go.jp/bib/029143366
- https://ndlsearch.ndl.go.jp/books/R000000004-I029143366
- http://id.ndl.go.jp/bib/029186361
- https://ndlsearch.ndl.go.jp/books/R000000004-I029186361
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- 本文言語コード
- ja
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- NDL 雑誌分類
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- ZN33(科学技術--電気工学・電気機械工業--電子工学・電気通信)
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- データソース種別
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- NDL
- CiNii Articles
