NETs連載講座 IEEE1394とUSBの雑音対策,対策部品の評価に死角あり(下)
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Abstract
USBやIEEE1394インタフェースの電磁雑音対策には，コモン・モード・フィルタ（CMF）が欠かせない。ただ，その特性評価には意外な落とし穴が潜んでいることを，前回述べた。今回は，その問題点を踏まえたうえで，より雑音特性に適した評価手法として，われわれが提案する「Sパラメータ」方式の優位性を，実測データを交えながら解説する。
Journal
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- 日経エレクトロニクス = Nikkei electronics : sources of innovation
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日経エレクトロニクス = Nikkei electronics : sources of innovation (785), 218-223, 2000-12-18
東京 : 日経BP
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Details 詳細情報について
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- CRID
- 1520009409002966528
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- NII Article ID
- 40002805889
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- NII Book ID
- AN0018467X
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- ISSN
- 03851680
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- NDL BIB ID
- 5597977
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- Text Lang
- ja
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- NDL Source Classification
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- ZN33(科学技術--電気工学・電気機械工業--電子工学・電気通信)
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- Data Source
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- NDL
- Nikkei BP
- CiNii Articles
