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有明高専におけるTOEIC IPテスト--過去3年間の成績推移について
Bibliographic Information
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- アリアケ コウセン ニ オケル TOEIC IP テスト カコ 3ネンカン ノ セイセキ スイイ ニ ツイテ
- TOEIC institutional program test in A.N.C.T.: the change of average scores
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Journal
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- 有明工業高等専門学校紀要 = Research reports of the National Institute of Technology, Ariake College / 有明工業高等専門学校図書・紀要委員会 編
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有明工業高等専門学校紀要 = Research reports of the National Institute of Technology, Ariake College / 有明工業高等専門学校図書・紀要委員会 編 (45), 77-81, 2009-10
大牟田 : 有明工業高等専門学校
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Details 詳細情報について
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- CRID
- 1520009409033348096
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- NII Article ID
- 110009552077
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- NII Book ID
- AN00012415
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- ISSN
- 03856844
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- NDL BIB ID
- 10501696
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- Text Lang
- ja
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- NDL Source Classification
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- ZM2(科学技術--科学技術一般--大学・研究所・学会紀要)
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- Data Source
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- NDL Search
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