In Situ 赤外分光測定による蒸着重合薄膜の構造解析に関する研究
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- In Situ セキガイ ブンコウ ソクテイ ニ ヨル ジョウチャク ジュウゴウ ハクマク ノ コウゾウ カイセキ ニ カンスル ケンキュウ
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- 電子情報通信学会技術研究報告 = IEICE technical report : 信学技報
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電子情報通信学会技術研究報告 = IEICE technical report : 信学技報 106 (132), 1-6, 2006-06-30
東京 : 電子情報通信学会
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Details 詳細情報について
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- CRID
- 1520009409041546368
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- NII Article ID
- 110004750797
- 110004751033
- 110004750905
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- NII Book ID
- AA1123312X
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- ISSN
- 09135685
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- Text Lang
- ja
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- NDL Source Classification
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- ZN33(科学技術--電気工学・電気機械工業--電子工学・電気通信)
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- Data Source
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- NDL
- CiNii Articles
- KAKEN
