錫(Sn)めっき表面の酸化皮膜の成長と接触抵抗特性--エリプソメトリによる研究
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- スズ Sn メッキ ヒョウメン ノ サンカ ヒマク ノ セイチョウ ト セッショク テイコウ トクセイ エリプソメトリ ニ ヨル ケンキュウ
- Growth law of the oxide film formed on the tin plated contact surface and its contact resistance characteristic
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- 電子情報通信学会技術研究報告 = IEICE technical report : 信学技報
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電子情報通信学会技術研究報告 = IEICE technical report : 信学技報 108 (434), 7-12, 2009-02-20
東京 : 電子情報通信学会
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Details 詳細情報について
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- CRID
- 1520009409206131328
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- NII Article ID
- 110007133610
- 110007325922
- 110007132136
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- NII Book ID
- AA1123312X
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- ISSN
- 09135685
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- Text Lang
- ja
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- NDL Source Classification
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- ZN33(科学技術--電気工学・電気機械工業--電子工学・電気通信)
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- Data Source
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- NDL
- CiNii Articles
