状態集合分割を用いる論理シミュレーションによる順序回路のテスト生成
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- ジョウタイ シュウゴウ ブンカツ オ モチイル ロンリ シミュレーション ニ ヨル ジュンジョ カイロ ノ テスト セイセイ
- デザインガイア2003--VLSI設計の新しい大地を考える研究会
- デザイン ガイア 2003 VLSI セッケイ ノ アタラシイ ダイチ オ カンガエル ケンキュウカイ
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- 電子情報通信学会技術研究報告 = IEICE technical report : 信学技報
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電子情報通信学会技術研究報告 = IEICE technical report : 信学技報 103 (476), 1-6, 2003-11-28
東京 : 電子情報通信学会
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Details 詳細情報について
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- CRID
- 1520009409437334144
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- NII Article ID
- 110003294212
- 10011856903
- 110002687597
- 110003316298
- 110003173628
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- NII Book ID
- AA1123312X
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- ISSN
- 09135685
- 09196072
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- Web Site
- http://id.ndl.go.jp/bib/6795949
- https://ndlsearch.ndl.go.jp/books/R000000004-I6795949
- http://id.ndl.go.jp/bib/6792667
- https://ndlsearch.ndl.go.jp/books/R000000004-I6792667
- http://id.ndl.go.jp/bib/6797256
- https://ndlsearch.ndl.go.jp/books/R000000004-I6797256
- http://id.ndl.go.jp/bib/6796910
- https://ndlsearch.ndl.go.jp/books/R000000004-I6796910
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- Text Lang
- ja
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- NDL Source Classification
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- ZN33(科学技術--電気工学・電気機械工業--電子工学・電気通信)
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- Data Source
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- NDL
- CiNii Articles
