SIMS特集
書誌事項
- タイトル別名
-
- SIMS トクシュウ
- 公開日
- 1984-06
- 公開者
- 東京 : 日本質量分析学会
この論文をさがす
説明
資料形態 : テキストデータ プレーンテキスト
コレクション : 国立国会図書館デジタルコレクション > デジタル化資料 > 雑誌
記事分類: 化学・化学工業--化学実験・分析化学--光分析・電磁気分析
収録刊行物
-
- 質量分析
-
質量分析 32 (2), p173-225, 1984-06
東京 : 日本質量分析学会
- Tweet
詳細情報 詳細情報について
-
- CRID
- 1520009409450124672
-
- NII論文ID
- 40001574134
-
- NII書誌ID
- AN0010555X
-
- ISSN
- 05428645
-
- NDL書誌ID
- 2995737
-
- 本文言語コード
- ja
-
- NDL 雑誌分類
-
- ZP4(科学技術--化学・化学工業--分析化学)
-
- データソース種別
-
- NDLサーチ
- CiNii Articles