グラフェン冷陰極からの電子放出特性の透過型電子顕微鏡その場測定
Bibliographic Information
- Other Title
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- グラフェンレイインキョク カラ ノ デンシ ホウシュツ トクセイ ノ トウカガタ デンシ ケンビキョウ ソノ バ ソクテイ
- In-situ transmission-electron microscopy measurement of field emission properties of graphene emitters
- 電子デバイス
- デンシ デバイス
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Journal
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- 電子情報通信学会技術研究報告 = IEICE technical report : 信学技報
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電子情報通信学会技術研究報告 = IEICE technical report : 信学技報 113 (257), 9-12, 2013-10
東京 : 電子情報通信学会
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Keywords
Details 詳細情報について
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- CRID
- 1520009409460378240
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- NII Article ID
- 110009815185
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- NII Book ID
- AA1123312X
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- ISSN
- 09135685
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- NDL BIB ID
- 025003255
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- Text Lang
- ja
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- NDL Source Classification
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- ZN33(科学技術--電気工学・電気機械工業--電子工学・電気通信)
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- Data Source
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- NDL
- CiNii Articles
