回路構造を考慮した修正箇所候補抽出に基づく論理診断手法
Bibliographic Information
- Other Title
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- カイロ コウゾウ オ コウリョ シタ シュウセイ カショ コウホ チュウシュツ ニ モトズク ロンリ シンダン シュホウ
- An Error Diagnosis Technique Based on Error Locations Extracted from Subcircuit Using Circuit structure
- システムLSI設計技術(SLDM) Vol.2009-SLDM-142
- システム LSI セッケイ ギジュツ(SLDM) Vol.2009-SLDM-142
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Journal
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- 情報処理学会研究報告
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情報処理学会研究報告 2009年度 (5), 1-6, 2010-02
東京 : 情報処理学会
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Details 詳細情報について
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- CRID
- 1520009409510948864
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- NII Article ID
- 110007995037
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- NII Book ID
- AA12414720
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- ISSN
- 18840930
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- NDL BIB ID
- 025052183
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- Text Lang
- ja
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- NDL Source Classification
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- ZM13(科学技術--科学技術一般--データ処理・計算機)
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- Data Source
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- NDL
- CiNii Articles