書誌事項
- タイトル別名
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- ショウ ヒンシュ コウシンライ セル オ モチイタ コウシンライ カイロ セッケイ シュホウ ト シンライセイ ヒョウカ シュホウ ノ テイアン
- Designing a Dependability Evaluation Method for Logic Circuits Using Highly Reliable Cells
- モバイルコンピューティングとユビキタス通信(MBL) Vol.2010-MBL-53
- モバイルコンピューティング ト ユビキタス ツウシン(MBL) Vol.2010-MBL-53
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収録刊行物
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- 情報処理学会研究報告
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情報処理学会研究報告 2009年度 (6), 1-8, 2010-04
東京 : 情報処理学会
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詳細情報 詳細情報について
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- CRID
- 1520009409527972608
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- NII論文ID
- 110007995055
- 110007993168
- 110007995185
- 110007993744
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- NII書誌ID
- AA12414720
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- ISSN
- 21862583
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- Web Site
- http://id.ndl.go.jp/bib/025098123
- https://ndlsearch.ndl.go.jp/books/R000000004-I025098123
- http://id.ndl.go.jp/bib/025062020
- https://ndlsearch.ndl.go.jp/books/R000000004-I025062020
- http://id.ndl.go.jp/bib/025101800
- https://ndlsearch.ndl.go.jp/books/R000000004-I025101800
- http://id.ndl.go.jp/bib/025047663
- https://ndlsearch.ndl.go.jp/books/R000000004-I025047663
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- 本文言語コード
- ja
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- NDL 雑誌分類
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- ZM13(科学技術--科学技術一般--データ処理・計算機)
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- データソース種別
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- NDL
- CiNii Articles
- KAKEN